PHENOM table top electronenmicroscopie - SEM

Table top electronenmicroscopie is de laatste jaren uitgegroeid tot een populaire techniek in heel wat materiaalkarakterisatie laboratoria. Niet alleen vormen deze toestellen het ideale alternatief voor een combinatie van high-end optische microscopie en low-end hoge resolutie SEM, maar door de grote gebruikseenvoud zijn ze snel en eenvoudig inzetbaar zonder nood aan gespecialiseerde operatoren of specifieke opleidingen. 

De derde generatie table top SEM van PHENOMWORLD bestaat uit 3 basismodellen:

  • PHENOM "PURE" basismodel SEM met optische camera en vergroting tot 20 000x
  • PHENOM "PRO" SEM met optische kleurencamera 20x tot 120x en vergroting tot 100 000x
  • PHENOM "PROX" SEM met optische kleurencamera 20x tot 120x, vergroting tot 100 000x en EDS module voor elementanalyse

Elke PHENOM table top SEM kan uitgebreid worden met een reeks monsterhouders voor onder andere metingen bij verlaagde druk, verlaagde of verhoogde temperatuur, tilt-rotatie etc... Er zijn ook inserts beschikbaar voor de meting van doorsneden en metallurgische of ingebedde monsters. Een houder voor het inklemmen van lange monsters zoals het uiteinde van een connector, naald of boor is eveneens beschikbaar.  

Een greep uit het uitgebreide aanbod aan softwareopties voor de PHENOM table top SEM:

  • "Fibermetric" software voor de bepaling van de diameter-distributie van vezels
  • "3D reconstruction" software voor de bepaling van ruwheidsparameters van oppervlakten
  • "EDS line scan en mapping" softwaremodules voor EDS analyse van een oppervlak of een lijn op een monster
  • "Automatic Image Mapping" is een software waarmee automatisch een reeks beelden aan elkaar "gestitched" worden tot één overzichtsbeeld
  • "ParticleMetric" is een krachtige software voor de automatische bepaling van deeltjesgrootte- en deeltjesvormdistributies.

Al deze softwaremodules en meer kunnen vanuit de "Pro Suite" hardware aangestuurd worden.

Het model "PROX" is uitgerust met een krachtige EDS-module voor element-analyse in de element-range van C tot Am. Verschillende acceleratie-voltages (5, 10 en 15 KeV) in combinatie met een regelbare beam-current zorgen voor de allerbeste analyseresultaten binnen een heel korte tijd. Standaard software voor punt-analyse en optionele pakketten voor line-scan en oppervlakte-scanning zijn beschikbaar.

Zoals alle PHENOM SEM toestellen is ook de PROX uitgerust met een optische camera voor snelle en "never-lost" navigatie.

Meer informatie