Oppervlakte-deflectometrie

Het Franse bedrijf Visuol ontwikkelt oppervlakte-analyzers die werken volgens het principe van de deflectometrie. Bij deze meettechniek worden variaties in een door een oppervlak gereflecteerd beeld ten overstaan van het originele beeld geanalyseerd.
In functie van het geprojecteerde lijnprofiel kunnen zowel kleine punt-defecten als afwijkingen of variaties in de plooiingen van grote oppervlakken gedetecteerd worden. Voorwaarde is wel dat oppervlakken reflecterend of semi-reflecterend zijn.

Niet alleen draagbare toestellen voor analyse van een 200mm x 200mm oppervlak maar ook laboratoriumtoestellen die oppervlakken van meerdere m² kunnen analyseren, of opstellingen op maat geproduceerd voor gebruik in productieomgeving, zijn beschikbaar.

Meer info op de Visuol website.

 

 

Meer informatie